受託サービス
受託計測・解析サービス
Metrixは、eSPM(走査型プローブ顕微鏡)を中心とした先端計測技術で、半導体や電池材料などの材料・デバイスに対する受託計測・解析サービスを提供しています。
Method
分析・評価手法から探す
ご希望の測定手法が決まっている方は、分析・評価手法別の一覧からサービスをご覧ください。
Material
分野・デバイスから探す
評価したい材料・デバイスから、代表的な受託サービスをご覧いただけます。
受託サービス
Metrixは、eSPM(走査型プローブ顕微鏡)を中心とした先端計測技術で、半導体や電池材料などの材料・デバイスに対する受託計測・解析サービスを提供しています。
Method
ご希望の測定手法が決まっている方は、分析・評価手法別の一覧からサービスをご覧ください。
Material
評価したい材料・デバイスから、代表的な受託サービスをご覧いただけます。