Why Metrix
Metrixが選ばれる理由
SPMを中心とした先端計測・解析技術により、半導体・電子デバイス・新材料開発における
技術課題の解決を支援します。
Our Position
単なる測定ではなく、開発課題の解決を支援します。
Metrixは、SPM（Scanning Probe Microscopy）を中心とした計測・解析技術を核に、受託試験・測定、技術コンサルティング、解析支援、共同研究まで一貫して対応しています。
測定の実施そのものにとどまらず、評価目的の整理、適切な手法の検討、結果の解釈、次の開発アクションにつながるご提案まで伴走できることが当社の特長です。
Reasons
Metrixの主な強み
SPMを中核とした専門性
原子・ナノスケールの表面・界面評価や局所電気特性評価に強みを持ち、一般的な外観観察や定型分析では見えにくい課題の把握を支援します。
課題に応じた評価設計力
お客様の材料、デバイス構造、開発段階、確認したい仮説に応じて、どのような観点で評価を行うべきかを整理し、目的に沿った測定・解析の進め方をご提案します。
受託試験から技術相談まで一貫対応
単発の受託測定だけでなく、技術的なご相談、評価条件の検討、結果に基づく追加検証のご相談まで、継続的な技術支援の形で対応可能です。
解析・可視化まで含めた支援
取得したデータを単に提出するだけでなく、解析や可視化を通じて理解しやすい形に整理し、開発判断に活用しやすいアウトプットにつなげます。
共同研究・開発支援にも対応
受託業務にとどまらず、テーマに応じて共同研究や継続的な評価支援にも対応し、開発パートナーとして中長期的な連携を見据えたご相談にもお応えします。
機密保持に配慮した対応
試作情報、設計情報、評価結果などの取り扱いに配慮し、必要に応じて秘密保持契約（NDA）を締結のうえでご相談を進めていただけます。
Suitable Cases
このようなお客様・課題に対応しています
半導体・電子デバイス開発
局所電気特性や表面・界面状態を把握し、材料選定やプロセス検討に活かしたい。
新材料の評価
ナノスケールでの構造・特性評価を通じて、材料開発や機能発現の理解を深めたい。
評価手法から相談したい
何をどのように測るべきか、測定条件や評価フローの設計段階から相談したい。
継続支援・共同研究を検討
単発の試験だけでなく、テーマベースで継続的な支援や共同研究を進めたい。
Contact
ご相談・ご依頼はこちら
受託試験・測定、技術的なご相談、共同研究のご検討など、
内容に応じて担当者よりご案内いたします。