NANO-SCALE ELECTRICAL CHARACTERIZATION
原子・ナノスケール電気特性評価で材料・デバイス開発を加速する。
Metrix株式会社は、SPM（Scanning Probe Microscopy）を中心とした先端計測・解析技術で、
半導体・電子デバイス・新材料開発における技術課題の解決を支援するテクノロジーカンパニーです。
事業領域・サービス
ナノスケールの計測・解析技術を核に、分析・評価手法と対象材料・デバイスの両面から受託サービスをご案内します。
Service Category
分析・評価手法から探す
評価目的や取得したい情報に応じて、代表的な分析・評価手法をご案内します。
Target Materials
対象材料・デバイスから探す
材料やデバイスの種類から、代表的な受託評価領域をご確認いただけます。
ご依頼の流れ
お問い合わせからご報告までの大まかなステップです。詳しいフローは下記ページをご覧ください。
01
お問い合わせ
ご要望をお聞かせください
02
ご提案
最適な測定条件をご提案
03
お見積り
内容・納期をご確認
04
試料送付
指定先までご送付ください
05
測定・解析
専門スタッフが対応
06
ご報告
結果をご報告・ご説明
新着情報
Metrixからのお知らせ・イベント情報および技術コラム・論文の更新情報を、新着順に掲載しています。
ニュース・お知らせ
Metrixからのお知らせやイベント情報を掲載しています。
技術コラム・論文
SPM を中心としたナノスケール電気特性評価に関する技術解説や論文・学会発表情報をまとめています。
計測・解析に関するご相談はこちら
試験条件が固まっていない段階でも、まずはお気軽にお問い合わせください。用途や課題を伺い、最適な計測プランをご提案します。