NANO-SCALE ELECTRICAL CHARACTERIZATION
原子・ナノスケール電気特性評価で
材料・デバイス開発を加速する。
Metrix株式会社は、SPM（Scanning Probe Microscopy）を中心とした
先端計測・解析技術で、半導体・電子デバイス・新材料開発における
技術課題の解決を支援するテクノロジーカンパニーです。
事業領域・サービス
ナノスケールの計測・解析技術を核に、受託試験から技術コンサルティング、共同研究まで一貫したソリューションを提供します。
ご依頼の流れ
お問い合わせからご報告までの大まかなステップです。詳しいフローは下記ページをご覧ください。
01
お問い合わせ
ご要望をお聞かせください
02
ご提案
最適な測定条件をご提案
03
お見積り
内容・納期をご確認
04
試料送付
指定先までご送付ください
05
測定・解析
専門スタッフが対応
06
ご報告
結果をご報告・ご説明
新着情報
Metrixからのお知らせ・イベント情報および技術コラム・論文の更新情報を、新着順に掲載しています。
ニュース・お知らせ
Metrixからのお知らせやイベント情報を掲載しています。
技術コラム・論文
SPM を中心としたナノスケール電気特性評価に関する技術解説や論文・学会発表情報をまとめています。
計測・解析に関するご相談はこちら
試験条件が固まっていない段階でも、まずはお気軽にお問い合わせください。用途や課題を伺い、最適な計測プランをご提案します。