NANO-SCALE ELECTRICAL CHARACTERIZATION

高分解能 × 高感度 × 定量化

Metrix株式会社は、eSPM(Electrical Scanning Probe Microscopy)を中心とした先端計測・解析技術により、半導体・電子デバイス・電池材料などを対象に、C-AFM・SSRMをはじめとする受託測定・解析サービスを提供しています。二次元ナノプロービングで新材料・新プロセス開発のボトルネックを解消し、実用化を加速させます。

SSRM / TEM evaluation image

事業領域・サービス

評価したい対象や取得したい情報に応じて、分析・評価手法別、または材料・デバイス別に受託測定・解析サービスをご案内しています。

Service Category

分析・評価手法から探す

評価目的や取得したい情報に応じて、代表的な分析・評価手法をご案内します。

導電性原子間力顕微鏡法(C-AFM)

材料・デバイス表面の局所電流分布や導通特性を可視化し、ナノスケールでの電気特性評価を支援します。
サービス詳細

走査型拡がり抵抗顕微鏡法(SSRM)

半導体材料・デバイス内部の局所抵抗分布を評価し、電気特性や不均一性の解析を支援します。
サービス詳細

Target Materials

分野・デバイスから探す

材料やデバイスの種類から、代表的な受託評価領域をご確認いただけます。

半導体

半導体材料・電子デバイスに対する表面・界面評価や局所電気特性解析など、開発段階に応じた受託評価に対応します。
サービス詳細

電池材料

電池材料の表面状態や局所特性の評価を通じて、材料設計や性能改善に向けた解析支援を行います。
サービス詳細

ご依頼の流れ

お問い合わせからご報告までの大まかなステップです。詳しいフローは下記ページをご覧ください。

01
お問い合わせ

ご要望をお聞かせください

02
ご提案

最適な測定条件をご提案

03
お見積り

内容・納期をご確認

04
試料送付

指定先までご送付ください

05
測定・解析

専門スタッフが対応

06
ご報告

結果をご報告・ご説明

新着情報

Metrixからのお知らせ・イベント情報および技術コラム・論文の更新情報を、新着順に掲載しています。

ニュース・お知らせ

Metrixからのお知らせやイベント情報を掲載しています。

技術コラム・論文

eSPMを中心としたナノスケール電気特性評価に関する技術解説や論文・学会発表情報をまとめています。

計測・解析に関するご相談はこちら

分析条件が固まっていない段階でも、まずはお気軽にお問い合わせください。用途や課題を伺い、最適な計測プランをご提案します。

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