About Metrix
Metrix株式会社について
Metrix株式会社は、eSPM（Electrical Scanning Probe Microscopy）を中心とした先端計測・解析技術により、半導体・電子デバイス・電池材料などを対象に、C-AFM・SSRMをはじめとする受託測定・解析サービスを提供しています。
会社概要
eSPMを活用した受託評価・測定サービス、解析支援、技術コンサルティングを通じて、研究開発・技術課題の解決を支援しています。
| 会社名 | Metrix株式会社（Metrix JAPAN Corp.） |
|---|---|
| 所在地 | 〒183-0006 東京都府中市緑町1-31-4 |
| TEL | 050-3176-1620（平日 10:00～17:00） |
| 設立 | 2025年11月20日 |
| 資本金 | 5,000,000円 |
| 法人番号 | 0124-01-043848 |
| 主要業務 | eSPMを活用した受託評価・測定サービス、解析支援、技術コンサルティング |
| 取引銀行 | 三井住友銀行 |
Strengths
Metrixの特徴
私たちは、単に測定データを提供するだけでなく、課題の背景理解から解析・考察まで含めて、お客様の開発判断を支援することを重視しています。
eSPM 特化の専門性
SSRM、C‑AFM などをはじめとする eSPM 系手法に特化し、ナノスケール電気特性評価に強みを持っています。
測定だけで終わらない支援
結果の取得にとどまらず、分布の意味や異常要因の考察、次の評価方針につながる解析支援まで伴走します。
材料からデバイスまで対応
半導体、電子デバイス、新材料など、テーマや開発段階に応じて柔軟に評価・解析を行います。
技術相談にも柔軟に対応
単発の測定依頼だけでなく、評価方法の選定や比較検討、継続的な技術相談にも対応しています。
Message
Metrixからのメッセージ
Metrix株式会社は、eSPMを中心とした原子・ナノスケール電気特性評価の専門性を通じて、半導体・電子デバイス・材料開発における技術課題の解決に貢献することを目指しています。
私たちは、従来手法では十分に捉えきれない局所現象や微細領域の課題に対し、測定だけでなく、お客様の目的や開発段階に応じた手法提案・解析・考察まで含めて支援することを大切にしています。
これからも、科学的誠実さと技術への探究心を大切にしながら、お客様にとって信頼できる技術パートナーであり続けられるよう努めてまいります。
Coverage
対応領域
お客様の開発テーマや評価目的に応じて、測定・解析・技術相談まで柔軟に対応しています。
新材料の特性評価
ナノスケールでの表面・局所電気特性評価を通じて、材料機能の理解や比較検討を支援します。
デバイス不良・異常解析
局所的な電気特性のばらつきや異常分布の把握を通じて、不良要因の切り分けや原因検討を支援します。
試作・工程条件の検討
試作段階やプロセス変更時における評価条件の設計、結果比較、改善検討に対応します。
受託測定・技術相談
単発の測定依頼に加え、評価方針のご相談や継続的な解析支援など、
テーマに応じた形で伴走します。
Mission
原子・ナノスケールの計測技術を通じて、
次世代デバイスと材料イノベーションの創出に貢献する。
Vision
Customer’s First Choice
Values
科学的誠実さ、チャレンジ精神、パートナーシップを重視し、長期的な信頼関係にもとづく価値提供を行う。
Next Step
具体的な評価・解析について検討中ですか？
評価手法の詳細を知りたい方は「Why eSPM」へ、実際の解析イメージをご覧になりたい方は「ギャラリー」へお進みください。
サンプルや課題に応じた個別相談も承っています。
アクセス
〒183-0006 東京都府中市緑町1-31-4
最寄り駅：京王線 府中駅 徒歩10分