分析・評価手法から探す
分析・評価手法別サービス
ご希望の測定手法や取得したい物理量に応じて、関連する受託計測・解析サービスをご覧いただけます。
Method 01
導電性原子間力顕微鏡法 (C-AFM)
試料表面の局所的な電流分布を可視化し、リークパスや電気的な不均一性の評価に活用します。
Method 02
走査型拡がり抵抗顕微鏡法 (SSRM)
局所的な抵抗分布を評価し、半導体断面やデバイス内部の電気特性解析に用いられます。
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Method 01
試料表面の局所的な電流分布を可視化し、リークパスや電気的な不均一性の評価に活用します。
Method 02
局所的な抵抗分布を評価し、半導体断面やデバイス内部の電気特性解析に用いられます。